自動化清淨度檢查系統 Banner

inclusion-autodefine

 

■ 產品介紹

自動化清淨度檢查系統 (AIMS, Auto Inclusion Measurement System),整合多種顯微拍照自動化控制設備,如研究級顯微鏡、顯微專用數位相機與自動載物台等設備,
可實現系統自動跑位拍照、夾雜物自動識別、自動分類與自動評級等功能,並可產生專業分析報告。

自動化清淨度檢查系統(AIMS),符合多種清淨度分析檢測規範,如GB/T 10561、ISO 4967、JIS G 0555、ASTM E 45、BS EN 10247、GB/T 18254、DIN 50 602等等。

■ 功能特性

‧全自動的分析系統 Automatic Inclusion Analysis System
系統由多種自動控制部分組成。包括:自動光學顯微鏡、軸電動台(支援多種高精度電動台)、電動轉盤控制器、自動拍照系統、全自動清潔度分析軟體等。

‧自動掃描樣品 Auto Scan,Support Multiple Scanning Area
支援多種掃描方式:矩形區域、圓形區域、環形區域、扇形區域等;滿足各種不同標準、不同使用者的檢測需要,大大提高工作效率。

‧多種自動對焦方式 Multi Automatic Focus Algorithm
支援多種對焦模式:補償對焦、跟蹤對焦、手動對焦、EFI對焦等。採用最新的對焦演算法,確保在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像。

‧自動拍照、視場自動定位 Automatic Snap and Field Position
採集過程自動拍照、照片自動保存,進度狀態即時可見;照片資訊存入資料庫,方便查詢;提供視場圖片瀏覽功能,可以實現視場定位回溯、重新拍照等功能。

‧多種檢測標準 Multiple Testing Standard
支援多種國內及國際標準:包括GB/T 10561、ISO 4967、JIS G 0555、ASTM E 45、BS EN 10247、GB/T 18254、DIN 50 602等;
支援標準中的提到的多種處理方法,A~E法、K法、M法、P法等。系統定期更新最新夾雜物標準。

‧夾雜物自動識別與分類 Inclusion Automatic Identification and Classification
系統自動識別夾雜物、自動分析及雜物類別(分別用不同顏色標出)、自動統計顆粒參數。同時支援夾雜物顆粒修改。
提供多種統計分析工具:MAP圖、夾雜物顆粒清單、夾雜物統計結果、長條圖等;同時支援夾雜物跨視野分析。

‧專業夾雜物報告 Professional Inclusion Report
專業的夾雜物評級報告,包含各個類別的夾雜物評級,根據不同標準生成對應的專業報告;支援報告的個性化設計。

 


詳細資訊請連結至「力丞儀器科技有限公司」http://www.apisc.com/auto-inclusion-measurement-system.html

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晶圓定位及瑕疵檢測軟體 Banner

 wafer-mapping-inspection-system

 

WMIS晶圓定位及瑕疵檢測系統專為晶圓目視檢測而設計,整合Wafer Mapping定位軟體、顯微鏡、Wafer Loader與Prior Shuttle自動載物台,適用於4/6/8吋晶圓即時瑕疵檢測。

WMIS可讀取客戶的Wafer Map,完成與實際Wafer的定位對應,並提供預覽影像,操作者可在螢幕上即時檢測Wafer上的每一個Die,並可針對Die的每種狀況進行定義,
於Wafer Map上以顏色呈現。即時觀測影像可拍照存檔,存檔名稱可自行定義,如Die的位置與瑕疵定義等。

■ 功能特點

[Wafer Mapping & Inspection Function]

‧讀取Wafer Map文字檔相關資訊,即時產生對應Wafer Map。
‧手動三點定位,定位簡易快速,誤差小,可修正Wafer實際角度與位置偏差。
‧可自定義多點檢測位置,如已公式計算多點檢測位置,或自行設定固定檢測位置。
‧可自行定義Defect類別,Defect分類可以顏色呈現。
‧可依每個Die的檢測狀況,選擇Defect進行標記,並以顏色於Wafer Map呈現,方便檢視與分辨,檢測結果可記錄於資料庫或Wafer Map。
‧可將瑕疵狀況進行拍照存檔,存檔名稱可自行定義,如Die的位置加上瑕疵定義。
‧可根據客戶需求,整合客戶端資料庫,將分析與檢測結果存入資料庫。

[Measurement Function]

‧提供多組比例尺建立,使用者可根據顯微鏡物鏡建立對應比例尺,並可於影像上標註比例尺。
‧提供量測直線、角度、面積等多種量測工具。
‧提供進階量測功能,如點到線距離、點到圓距離、線到圓距離等。
‧提供影像縮放功能、方便觀察檢測。
‧即時觀測影像畫面,減少檢測者於顯微鏡上觀測的疲勞度,並可顯示十字線,方便檢測與對位。
‧影像拍照存檔成多種格式,如Tiff、JPEG等。
‧量測結果可匯出至文字檔或Excel報表。
‧提供Time Lapse影像拍照功能,可設定拍照建隔時間與張數。

 

 


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關鍵字:Wafer Mapping,Wafer Maps,Wafer Map,晶圓對位,瑕疵檢測,晶圓定位,WMIS晶圓定位及瑕疵檢測軟體

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纖維影像分析軟體Banner

適用於顯微纖維影像量測,可進行纖維數量計數、纖維面積、纖維直徑等等,也可分析中空纖維(中空紗)的中空率。

分析應用:一般纖維的影像分析、多孔纖維中空率分析、中空紗中空率分析

fiber  

■ 纖維影像定量分析

纖維定量分析主要量測纖維束的面積與直徑,傳統的量測方法必須手工作業,每個纖維進行描繪,然後再剪下測量,
操作繁複耗時,對研究人員而言,是一大負擔;且量測結果不精準,正確性易受質疑。

■ 一般纖維影像分析的困難

*纖維束互相擠壓不易分離,難以針對個別纖維進行定量分析

*部分纖維束景深不同,影像無法完全對焦,造成分析時纖維辨識率不高

*顯微鏡光源不當的操作,增加影像分析的困難

holeratio  

■ Fiber Master分析軟體的特點

*操作簡易,同時提供完整的教育訓練,幫助使用者快速上手

*辨識率高,可自動切割分離纖維束,並提供手動增加纖維束功能,彌補取相品質不佳的缺陷

*正確的分析結果,精度可達到sub-pixel

*百分百的再現性,可將纖維影像存檔,方便以後驗證

*報表製作簡易快速,分析結果可傳送到Excel或文字檔

*提供分析建議與支援客製化,可針對特殊的纖維種類,客製化程式

*Plug-in Module for IPP

 

 

 

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bottle-inspection-machine-01  


■ 降低生產成本
■ 精確、省時、穩定
■ 人機介面操作方便
■ 自動補正區域位置
■ 可繪製幾何檢查區域
■ 量測結果輸出及儲存
■ 堅固耐用的機台結構
■ 可檢測各式PET瓶胚品質

■ 檢測項目

瓶口檢查:瓶口內徑、外徑、瓶口至持胚環高度、瓶口至全螺牙起始位置
螺紋檢查:螺紋底徑、外徑、螺紋角度、螺紋頂端寬度
封蓋檢查:封蓋環外徑、封蓋環角度、持胚環直徑、防盜環下外徑
其他檢查:瓶胚長、料口長、垂直度、排氣槽寬度、胴徑、瓶頸外徑

■ 檢測畫面

 bottle-inspection-machine-02 bottle-inspection-machine-03 bottle-inspection-machine-04 bottle-inspection-machine-05  

bottle-inspection-machine-06

 

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【放大鏡 (Magnifying glass / magnifier) 選購服務】

■ 步驟 1:請點選您需要的『倍率範圍』,選擇您所需的型式,並記下『型號』。

     2X~6X 7X~9X 10X~15X 20X~40X 50X~75X 100X Plus

■ 步驟 2:請選擇您需要的『刻度片 / 十字刻劃片』,並記下『型號』。

■ 步驟 3:請與力丞儀器客服聯繫,確認需求詢價。

     電話:(03)357-8852 / (03)357-885 E-mail: albee@apisc.com.tw

■ 如需展示,請事先來電預約,恕不接待未事先預約者,敬請見諒!

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PEAK-6 PEAK-1 PEAK-2 PEAK-3 PEAK-4 PEAK-5  

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APISC Blog-擠出式刮刀塗佈機  

 

 

 ■ 規格

 

項 目

規 格

備 註

 最大塗佈面積

 370mm(Y)*470mm(X)

 

 單次塗佈行程數

 max: 6個

 

 記憶組別

 max: 10組

 

 塗佈頭移動速度

 max: 20m/min(333mm/sec)

 

 History Log

 可存檔

 

 電腦

 Intel Core 2 Duo CPU With Windows XP 

 

 螢幕

 寬螢幕(1400*900)

 

 通訊方式

 RS232(COM1; 9600/7/E/1)

與PLC通訊

 PLC

 台達電子

 

 機台尺寸

 600mm(L)*540mm(W)*500mm(H)

 

 

 

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■ 採用高輝度白色LED光源,體積小,攜帶方便。
■ 可提供各式具有雙折射性質材料之品管。
■ 觀察分布於產品中之引張、壓縮的應力大小及方向。
■ 屬於非接觸式之內應力偏光儀

■ 產品規格

PSI-826H 手持式偏光應力檢測儀

 

 PSI-826H  

 

品名 (Product name)

手持式偏光應力檢測儀

光源 (Light source)

白光LED光源,明暗可調

觀察視野 (Observation size)

Ø 82 mm

機構喉深 (Throat depth)

170 mm

適用電源 (Rating)

AC 110~240V

尺寸 (L*W*H)

132*123*125 mm

機台重量 (Gross Weight)

1.3 kg

檢查方式 (Mode)

敏銳色法 / 直交偏光法 / 平行偏光法 / 圓型偏光法

 

  

 

 PSI-828 桌上型偏光應力檢測儀

PSI-828 

 

 

品名(Product name)

桌上型偏光應力檢測儀

光源(Light source)

白光LED光源,明暗可調

觀察視野(Observation size)

Ø 82 mm

機構喉深(Throat depth)

200 mm (8”)

適用電源(Rating)

AC 110~240V

尺寸(L*W*H)

342*222*239 mm

機台重量(Gross Weight)

10 kg

檢查方式(Mode)

敏銳色法/直交偏光法/平行偏光法/圓型偏光法

 

  

 

 PSI-2857 攜帶式偏光應力檢測儀

PSI-2857  

  

品名(Product name)

攜帶式偏光應力檢測儀

光源(Light source)

白光冷陰極光源

觀察視野(Observation size)

285*185 mm

機構喉深(Throat depth)

185 mm

適用電源(Rating)

AC 110~240V

尺寸(L*W*H)

360*240*145 mm

機台重量(Gross Weight)

5 kg

檢查方式(Mode)

敏銳色法/直交偏光法/平行偏光法/圓型偏光法

 

■ 檢測法

.敏銳色法:以顏色分辨應力狀況,可顯示應力強弱、方向。

.圓型偏光法:可直接辨別應力的發生的位置,隱藏應力分辨容易。

.直交偏光法:可檢測出被測物有無隱藏應力,分辨應力方向。


■ 應用產業

.玻璃產業:平板玻璃、強化玻璃、汽車玻璃、玻璃纖維、工藝玻璃、TFT-LCD、觸控面板、
      太陽能電池、玻璃基板、螢光燈管、棱鏡、透鏡......

.塑膠產業:塑膠膠片、塑膠透鏡、精密塑膠材料檢查、有色透明的塑膠......

.其它說明:定量定性應力儀、偏光應力儀、玻璃應力儀、強化玻璃表面應力儀、
      PET瓶坯專用應力儀、光學玻璃應力儀、汽車玻璃應力儀、塑料製品應力儀、
      建築玻璃應力儀、玻璃器皿應力儀、PC應力儀、PP塑料應力儀、模具應力儀、
      手機螢幕應力儀、玻璃斷面應力儀

 


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關鍵字:應力偏光儀,非接觸式內應力偏光儀,玻璃應力檢測,玻璃應力偏光測量儀,偏光檢測,應力檢測

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APISC Blog-模具監視器  

 

■ 主要功能

 ● 保護模具安全
 ● 產品射出件檢測
 ● 頂針、鑲件確認
 ● 生產前後檢測
 ● 有效同時監控多穴模具
 ● 安全門監控
 ● 監測短射不良品
 ● 可與機械手臂一起使用

■ 說明

塑膠射出機專用模具安全監測儀,或稱為模具監視系統、模具監視器、模具保護裝置、視覺自動檢測系統

 ● 可選擇1組~2組攝影機模組
 ● 8.4"彩色液晶螢幕
 ● 2次監視時間自動偵測縮短,快速完成監視。
 ● 模穴輝度差與灰階感度皆可調整設定,操作簡便一次OK。
 ● 模具、安全門開閉或任何重複性動作,都可設定觸發啟動相關取像監測。
 ● 先進光學感測系統,可確實監控相關難辨識的黑色部件。
 ● 多種聲光警報設定,容易辨別警報機台。
 ● 96個監測區域及敏感度設定,可監視複雜形狀部品。
 ● NG畫面履歷記憶,解析、判斷、對策NG原因。
 ● 安全門關閉,作啟動前監視(模具清理後滑塊位移確認)。

 


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利用機械視覺的方式檢查素玻璃基板的板邊內部與表面上之缺陷,基於高速與高缺陷精度的需求,系統使用1組2個Area Scan CCD,並搭配透射式及反射式照明,排列成含蓋整個玻璃基板單邊單側板緣,進行玻璃邊緣之即時掃描。

CCD的檢測方式如下:
上視:表現倒角變化
側視:側面檢視邊損上的變化

■ 光學精度分析

APISC Blog-玻璃邊損-光學精度分析  

■ 上視與側視整合取像結構

APISC Blog-玻璃邊損-上視與側視  

■ 測試結果

上視測試結果:貝狀缺角、燒傷、切折不良

APISC Blog-玻璃邊損-上視  

 

側視測試結果:表面取

APISC Blog-玻璃邊損-側視  

 


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關鍵字:玻璃邊損檢測系統,Glass Edge檢查機,玻璃邊損檢查,玻璃檢測

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■ 檢測樣品:軟式隱形眼鏡 濕片 + 放置於PP杯內含液
■ 檢查區域:光心區、非光心區
■ 檢出缺陷:缺邊、缺口、裂痕、鋸齒、毛邊、刮痕、刮傷、色塊、汙損、髒汙、異物、瑕疵、
      氣泡、孔洞、污點、附著物等。
■ 檢測範圍:20mm*16.5mm
■ 影像解析度:0.008mm/pixel
■ 再現精度:0.04mm
■ 檢出時間:600ms
■ 檢測實例圖示:雙重視野(明暗視野)觀察型態,確保檢測精度

APISC Blog-隱形眼鏡檢測實例  

 

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TEL:(03)375-7588 FAX:(03)375-7088 桃園市經國路9號7樓之1

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關鍵字:隱形眼鏡檢測,角膜接觸鏡檢測,隱形眼鏡

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■ USB電子目鏡 130萬畫素 Model: EC-130    ■ USB電子目鏡 300萬畫素 Model: EC-300 

 

應用領域:

適用於任何標準的生物顯微鏡、立體顯微鏡、金相顯微鏡的拍攝,可直接連接於目鏡及三眼觀察筒使用,透過 USB 2.0 界面傳輸連結 PC 或 NB ,可以廣泛的應用於生技醫療機構、實驗室、研究所、高等學校做生物學、病理學、細菌學觀察、教學和研究、臨床實驗和常規醫療檢驗;工廠、實驗室對材料的分析和鑑定。 


型號
EC-130
EC-300
取像晶片
1/2"CMOS
畫素大小
5.2um × 5.2um
3.2um × 3.2um
有效畫素
1280 × 1024
2048 × 1536
影像速度
15fps/9fps@1280 × 1024 
33fps@640 × 480
5fps@2048 × 1536 
38fps@640 × 480
信噪比
45dB
43dB
動態範圍
68.2dB
61dB
曝光
手動
白平衡
自動、手動
感光度
2.1V/lux-sec(550nm)
1.0V/lux-sec(550nm)
曝光方式
ERS
鏡頭
C 或 CS Mount
外部尺寸
57mm × 45mm × 41mm
工作溫度
0 ℃ to 40 ℃
重量
75g
介面
USB2.0
電源
5V(USB 供電 )
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鏡頭  

■ Features 
A special feature of the telecentric lens is that, even if the workpiece is raised or lowered during focus adjustment, the size (magnification) of the image does not change, and the whole of the work face can be photographed from directly in front. It is with confidence that we recommend the MRC series as outstanding device mounting lenses, ideal for high precision positioning and size measurement, and delivering high resolution with low distortion.


■ Our goal is to get as close as possible to zero distortion.
 Our aberration-free design concept has been used to eradicate image distortion. Now there is no need to worry about distortion correction in inspection operations.

■  Low cost achieved by using fewer lenses
 Compact and reasonable design allows the design of devices and their peripherals to be compact also. By reducing the number of lenses without sacrificing high performance, and the sharing of cutting parts and components, we have been able to reduce costs.

■  High contrast design to reduce the software burden
 Sharpened design precision and improved contrast. Enabling image recognition with sharp monochrome and light - dark definition.

■ Thumb cameras also available
By simply replacing the C mount lens with the special adapter the telecentric lens can be converted into a slim φ17 thumb camera. 




 MIRUC-WD series 遠心鏡頭 (1).jpg    MIRUC-WD series 遠心鏡頭 (2).jpg  
High contrast design
The use of large.triple lens microscopes enables compact and cost effective design.

 











 

 

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laser_Cassette_banner  

  1. 自動上下片~CCD上下自動對位~自動切割
  2. 適用0.2mm陶瓷基板
  3. 切割道最小可達4μm,有效提升良率
  4. 切割尺寸可達四吋,搭配標準六吋環
  5. 切割深度可大於200um
  6. 切割速度可達180mm/sec,可大幅提高產能
  7. 精密移動平台,可確保加工精度結果
  8. 切割道平穩,可確保裂片時不會損傷晶片
  9. 採用幾乎不發生熱變形的短脈衝雷射技術,近而避免因過熱對電路面產生的不良影響
  10. 友善的操作介面使加工調整時間大幅縮短
  11. 切割材料可為陶瓷基板、矽、玻璃、砷化鎵、金屬、藍寶石、石英、太陽能基板等
  12. 在LED業有多達50台以上應用實績

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樣品代測服務
 
 
 項目  測試項目 收費標準 
 1  光學顯微鏡金相  歡迎電洽!03-3757588 
 1-1  試片製備 
非定點 / 定點
(不含切割取樣) 歡迎電洽 
 2  掃描式電子顯微鏡觀察 (SEM)  歡迎電洽! 
 3  SEM/EDS 元素半定量分析  歡迎電洽!
 4  熱特性分析 (DSC)  歡迎電洽! 
 5  洛式硬度  分析 5 個點  歡迎電洽!
 6  微硬度  分析 5 個點  歡迎電洽!
 7  衝擊試驗  歡迎電洽! 
 8  表面粗度量測 歡迎電洽! 
 9  TEM 歡迎電洽! 
 10  XRD 結晶&薄膜分析 歡迎電洽! 
 11  AFM 歡迎電洽! 
 

備註: 
1. 上列試片加工及處理費,並未包括自大型構件 ( 或樣品 ) 切取之費用。另外,若為特殊材料或難加工材料,此       費用將酌情增加。 

2. 成品樣品之測試視試樣繁易而定,如需非標準夾具輔助測試,則酌收夾具設計製作費。 

3. 若屬大量測試件的委託或長期客戶或年度簽約之廠商,價格另有優惠。 

4. 若急件,每件酌情增收費用。 

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  刮刀塗佈機afac-4032  

平台基座: 鋼材基座
平台尺寸: 深565mm x 寬360mm
機台外殼: 鋁合金及鈑金烤漆
塗佈平台: 標準配備- 鋼化玻璃平台
選購配備- 金屬平台 或 真空平台
機台尺寸: 長565mm x 寬360mm x 高240mm(搭配刮刀塗佈器高度為350mm)
最大塗佈範圍: 塗佈線棒- 深400mm x 寬320mm
刮刀塗佈器- 深340mm x 寬310mm
操作方式: 前進、後退、停止、刮塗速度控制
速度範圍: 1-99mm/s(可依客戶需求提供)
電源需求: 110V/60Hz,5A
控制面板: 按鈕及旋鈕開關
馬達類型: 步進馬達

 

 

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